W prezentacji przedstawiono zastosowanie trójwymiarowej akwizycji dyfrakcji elektronów ostecznie rozproszonych 3D EBSD (Three- Dimensional Electron Backscatter Diffraction) w badaniachspiekanych tlenkowych przewodników jonowychna bazie dwutlenku cyrkonu ZrO2 stabilizowanego trójtlenkiem itru Y2O3. Technika ta polega na sekwencyjnym usuwaniu warstwy materiału wysokoenergetyczną wiązką jonów galu z równoczesną akwizycją map orientacji. Po złożeniu wszystkich zebranych map za pomocą specjalistycznego oprogramowania powstaje trójwymiarowy obraz mikrostruktury badanego materiału, który pozwala na analizę rozmiarów krystalitówi rozkładu ich orientacji w przestrzeni trójwymiarowej, co nie było osiągalne przy standardowej, dwuwymiarowej analizie dyfrakcyjnej.
| PEŁNA WERSJA ARTYKUŁU DO POBRANIA | ||
| Prof. dr hab. inż. Marek Faryna | ||
|
Specjalista w zakresie skaningowej mikroskopii elektronowej i technik pokrewnych, wieloletni pracownik Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk, kierownik Pracowni Skaningowej Mikroskopii Elektronowej Zespołu Laboratoriów Badawczych IMIM PAN, autor dwóch monografii i licznychartykułów naukowych w recenzowanych czasopismach z listy JCR, kierownik 7 projektów badawczych. |
Newsletter