rys 9

Mikroskopia dwuwiązkowa w badaniach właściwości materiałów ceramicznych od 3D EBSD do FIB-DIC

W prezentacji przedstawiono zastosowanie trójwymiarowej akwizycji dyfrakcji elektronów ostecznie rozproszonych 3D EBSD (Three- Dimensional Electron Backscatter Diffraction) w badaniachspiekanych tlenkowych przewodników jonowychna bazie dwutlenku cyrkonu ZrO2 stabilizowanego trójtlenkiem itru Y2O3. Technika ta polega na sekwencyjnym usuwaniu warstwy materiału wysokoenergetyczną wiązką jonów galu z równoczesną akwizycją map orientacji. Po złożeniu wszystkich zebranych map za pomocą specjalistycznego oprogramowania powstaje trójwymiarowy obraz mikrostruktury badanego materiału, który pozwala na analizę rozmiarów krystalitówi rozkładu ich orientacji w przestrzeni trójwymiarowej, co nie było osiągalne przy standardowej, dwuwymiarowej analizie dyfrakcyjnej.

 

PEŁNA WERSJA ARTYKUŁU DO POBRANIA
Prof. dr hab. inż. Marek Faryna

Specjalista w zakresie skaningowej mikroskopii elektronowej i technik pokrewnych, wieloletni pracownik Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk, kierownik Pracowni Skaningowej Mikroskopii Elektronowej Zespołu Laboratoriów Badawczych IMIM PAN, autor dwóch monografii i licznychartykułów naukowych w recenzowanych czasopismach z listy JCR, kierownik 7 projektów badawczych.

 

 

ISSN 0039-8144

Informujemy, że w ramach naszej witryny stosujemy pliki cookies. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień przeglądarki oznacza, że akceptują Państwo otrzymywanie cookies. więcej informacji...